VTechWorks staff will be away for the Thanksgiving holiday beginning at noon on Wednesday, November 27, through Friday, November 29. We will resume normal operations on Monday, December 2. Thank you for your patience.

Browsing by Author "Aoki, M."

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Fundamental Physics at the Intensity Frontier
    Hewett, J. L.; Weerts, H.; Brock, R.; Butler, J. N.; Casey, B. C. K.; Collar, J.; Gouvea, A. D.; Essig, R.; Grossman, Y.; Haxton, W.; Jaros, J. A.; Jung, C. K.; Lu, Z. T.; Pitts, K.; Ligeti, Z.; Patterson, J. R.; Ramsey-Musolf, M.; Ritchie, J. L.; Roodman, A.; Scholberg, K.; Wagner, C. E. M.; Zeller, Geralyn P.; Aefsky, S.; Afanasev, A.; Agashe, K.; Albright, C. H.; Alonso, J.; Ankenbrandt, C. M.; Aoki, M.; Arguelles, C. A.; Arkani-Hamed, N.; Armendariz, J. R.; Armendariz-Picon, C.; Diaz, E. A.; Asaadi, J.; Asner, D. M.; Babu, K. S.; Bailey, K.; Baker, O.; Balantekin, A. B.; Baller, B.; Bass, M.; Batell, B.; Beacham, J.; Behr, J.; Berger, N.; Bergevin, M.; Berman, E.; Bernstein, R.; Bevan, A. J.; Bishai, M.; Blanke, M.; Blessing, S.; Blondel, A.; Blum, T.; Bock, G.; Bodek, A.; Bonvicini, G.; Bossi, F.; Boyce, J.; Breedon, R.; Breidenbach, M.; Brice, S. J.; Briere, R. A.; Brodsky, S.; Bromberg, C.; Bross, A.; Browder, T. E.; Bryman, D. A.; Buckley, M.; Burnstein, R.; Caden, E.; Campana, P.; Carlini, R.; Carosi, G.; Castromonte, C.; Cenci, R.; Chakaberia, I.; Chen, M. C.; Cheng, C. H.; Choudhary, B.; Christ, N. H.; Christensen, E.; Christy, M. E.; Chupp, T. E.; Church, E.; Cline, D. B.; Coan, T. E.; Coloma, P.; Comfort, J.; Coney, L.; Cooper, J.; Cooper, R. J.; Cowan, R.; Cowen, D. F.; Cronin-Hennessy, D.; Datta, A.; Davies, G. S.; Demarteau, M.; DeMille, D. P.; Denig, A.; Dermisek, R.; Deshpande, A.; Dewey, M. S.; Dharmapalan, R.; Dhooghe, J.; Dietrich, M. R.; Diwan, M.; Djurcic, Zelimir; Dobbs, S.; Duraisamy, M.; Dutta, B.; Duyang, H.; Dwyer, D. A.; Eads, M.; Echenard, B.; Elliott, S. R.; Escobar, C. O.; Fajans, J.; Farooq, S.; Faroughy, C.; Fast, J. E.; Feinberg, B.; Felde, J.; Feldman, G.; Fierlinger, P.; Perez, P. F.; Filippone, B. W.; Fisher, P.; Fleming, B. T.; Flood, K. T.; Forty, R.; Frank, M. J.; Freyberger, A.; Friedland, A.; Gandhi, R.; Ganezer, K. S.; Garcia, A.; Garcia, F. G.; Gardiner, S.; Garrison, L.; Gasparian, A.; Geer, S.; Gehman, V. M.; Gershon, T.; Gilchriese, M.; Ginsberg, C.; Gogoladze, I.; Gonderinger, M.; Goodman, M.; Gould, H.; Graham, M.; Graham, P. W.; Gran, R.; Grange, J.; Gratta, G.; Green, J. P.; Greenlee, H.; Group, R. C.; Guardincerri, E.; Gudkov, V.; Guenette, R.; Haas, A.; Hahn, A.; Han, T.; Handler, T.; Hardy, J. C.; Harnik, R.; Harris, D. A.; Harris, F. A.; Harris, P. G.; Hartnett, J.; He, B.; Heckel, B. R.; Heeger, K. M.; Henderson, S.; Hertzog, D.; Hill, R.; Hinds, E. A.; Hitlin, D. G.; Holt, R. J.; Holtkamp, N.; Horton-Smith, Glenn A.; Huber, Patrick; Huelsnitz, W.; Imber, J.; Irastorza, I.; Jaeckel, J.; Jaegle, I.; James, C.; Jawahery, A.; Jensen, D.; Jessop, C. P.; Jones, B.; Jostlein, H.; Junk, T.; Kagan, A. L.; Kalita, M.; Kamyshkov, Y.; Kaplan, D. M.; Karagiorgi, Georgia S.; Karle, A.; Katori, T.; Kayser, B.; Kephart, R.; Kettell, S. H.; Kim, Y.-K.; Kirby, M.; Kirch, K.; Klein, J.; Kneller, J.; Kobach, A.; Kohl, M.; Kopp, J.; Kordosky, M.; Korsch, W.; Kourbanis, I.; Krisch, A. D.; Križan, P.; Kronfeld, A. S.; Kulkarni, S.; Kumar, K. S.; Kuno, Y.; Kutter, T.; Lachenmaier, Tobias; Lamm, M.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lane, C.; Lang, K.; Langacker, P.; Lazarevic, S.; Le, T.; Lee, K.; Lesko, K. T.; Li, Y.; Lindgren, M.; Lindner, A.; Link, Jonathan M.; Lissauer, D.; Littenberg, L. S.; Littlejohn, B.; Liu, C. Y.; Loinaz, William; Lorenzon, W.; Louis, W. C.; Lozier, J.; Ludovici, L.; Lueking, L.; Lunardini, C.; MacFarlane, D. B.; Machado, P. A. N.; Mackenzie, P. B.; Maloney, J.; Marciano, W. J.; Marsh, W.; Marshak, M.; Martin, J. W.; Mauger, C.; McFarland, K. S.; McGrew, C.; McLaughlin, G.; McKeen, D.; McKeown, R.; Meadows, B. T.; Mehdiyev, R.; Melconian, D.; Merkel, H.; Messier, M.; Miller, J. P.; Mills, G.; Minamisono, U. K.; Mishra, S. R.; Mocioiu, I.; Sher, S. M.; Mohapatra, R. N.; Monreal, B.; Moore, C. D.; Morfin, J. G.; Mousseau, J.; Moustakas, L. A.; Mueller, G.; Mueller, P.; Muether, M.; Mumm, H. P.; Munger, C.; Murayama, H.; Nath, P.; Naviliat-Cuncin, O.; Nelson, J. K.; Neuffer, D.; Nico, J. S.; Norman, A.; Nygren, D.; Obayashi, Y.; O'Connor, T. P.; Okada, Y.; Olsen, J.; Orozco, L.; Orrell, J. L.; Osta, J.; Pahlka, B.; Paley, J.; Papadimitriou, V.; Papucci, M.; Parke, S.; Parker, R. H.; Parsa, Z.; Partyka, K.; Patch, A.; Pati, J. C.; Patterson, R. B.; Pavlovic, Z.; Paz, G.; Perdue, G. N.; Perevalov, D.; Perez, G.; Petti, R.; Pettus, W.; Piepke, A.; Pivovaroff, M. J.; Plunkett, R.; Polly, C. C.; Pospelov, M.; Povey, R.; Prakash, A.; Purohit, M. V.; Raby, S.; Raaf, J. L.; Rajendran, R.; Rajendran, S.; Rameika, G.; Ramsey, R.; Rashed, A.; Ratcliff, B. N.; Rebel, B.; Redondo, J.; Reimer, P.; Reitzner, D.; Ringer, F.; Ringwald, A.; Riordan, S.; Roberts, B. L.; Roberts, D. A.; Robertson, R.; Robicheaux, F.; Rominsky, M.; Roser, R.; Rosner, J. L.; Rott, C.; Rubin, P.; Saito, N.; Sanchez, Maria Cristina; Sarkar, S.; Schellman, H.; Schmidt, B.; Schmitt, M.; Schmitz, D. W.; Schneps, J.; Schopper, A.; Schuster, P.; Schwartz, A. J.; Schwarz, M.; Seeman, J.; Semertzidis, Y. K.; Seth, K. K.; Shafi, Q.; Shanahan, P.; Sharma, R.; Sharpe, S. R.; Shiozawa, M.; Shiltsev, V.; Sigurdson, K.; Sikivie, P.; Singh, J.; Sivers, D.; Skwarnicki, T.; Smith, N.; Sobczyk, J.; Sobel, H.; Soderberg, M.; Song, Y. H.; Soni, A.; Souder, P. A.; Sousa, A.; Spitz, Joshua; Stancari, M.; Stavenga, G. C.; Steffen, J. H.; Stepanyan, S.; Stoeckinger, D.; Stone, S.; Strait, J.; Strassler, M.; Sulai, I. A.; Sundrum, R.; Svoboda, R.; Szczerbinska, B.; Szelc, A.; Takeuchi, Tatsu; Tanedo, P.; Taneja, S.; Tang, J.; Tanner, D. B.; Tayloe, R.; Taylor, I.; Thomas, J.; Thorn, C.; Tian, X.; Tice, B. G.; Tobar, M.; Tolich, N.; Toro, N.; Towner, I. S.; Tsai, Y.; Tschirhart, R.; Tunnell, C. D.; Tzanov, M.; Upadhye, A.; Urheim, J.; Vahsen, S. E.; Vainshtein, A.; Valencia, E.; Water, R. G. V. D.; Water, RSVD; Velasco, M.; Vogel, J.; Vogel, P.; Vogelsang, W.; Wah, Y W.; Walker, D.; Weiner, N.; Weltman, A.; Wendell, R.; Wester, W.; Wetstein, M.; White, C.; Whitehead, L.; Whitmore, J.; Widmann, E.; Wiedemann, G.; Wilkerson, J.; Wilkinson, G.; Wilson, P.; Wilson, R. J.; Winter, W.; Wise, Milton B.; Wodin, J.; Wojcicki, S.; Wojtsekhowski, B.; Wongjirad, T.; Worcester, E.; Wurtele, J.; Xin, T.; Xu, J.; Yamanaka, T.; Yamazaki, Y.; Yavin, I.; Yeck, J.; Yeh, M.; Yokoyama, M.; Yoo, J.; Young, A.; Zimmerman, E.; Zioutas, K.; Zisman, M.; Zupan, J.; Zwaska, R. (2011)
    The Proceedings of the 2011 workshop on Fundamental Physics at the Intensity Frontier. Science opportunities at the intensity frontier are identified and described in the areas of heavy quarks, charged leptons, neutrinos, proton decay, new light weakly-coupled particles, and nucleons, nuclei, and atoms.
  • Thumbnail Image
    Search for massive neutrinos in the decay pi -> e nu
    Aoki, M.; Blecher, Marvin; Bryman, D. A.; Chen, S.; Ding, M.; Doria, L.; Gumplinger, P.; Hurst, C.; Hussein, A.; Igarashi, Y.; Ito, N.; Kettell, S. H.; Kurchaninov, L.; Littenberg, L.; Malbrunot, C.; Numao, T.; Poutissou, R.; Sher, A.; Sullivan, T.; Vavilov, D.; Yamada, K.; Yoshida, M.; Pienu Collaboration (American Physical Society, 2011-09-06)
    Evidence of massive neutrinos in the pi(+) -> e(+)nu decay spectrum was sought with the background pi(+) -> mu(+) -> e(+) decay chain highly suppressed. Upper limits (90% C. L.) on the neutrino mixing matrix element vertical bar U(ei)vertical bar(2) in the neutrino mass region 60-129 MeV/c(2) were set at the level of 10(-8).