The K2K SciBar detector

Nitta, K.; Aliu, E.; Andringa, S.; Aoki, S.; Choi, S.; Dore, U.; Espinal, X.; Gomez-Cadenas, J. J.; Gran, R.; Hasegawa, M.; Hayashi, K.; Hayashi, K.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Ichikawa, A. K.; Iinuma, M.; Jang, J. S.; Jeon, E. J.; Joo, K. K.; Jung, C. K.; Kato, I.; Kerr, D.; Kim, J. Y.; Kim, S. B.; Kobayashi, K.; Kohara, A.; Kubota, J.; Kudenko, Y.; Kuno, Y.; Lee, M. J.; Lessac-Chenin, E.; Lim, I. T.; Loverre, P. F.; Ludovici, L.; Maesaka, H.; Mariani, Camillo; McGrew, C.; Mineev, O.; Morita, T.; Murakami, T.; Nakanishi, Y.; Nakaya, T.; Nawang, S.; Nishikawa, K.; Pac, M. Y.; Rhee, E. J.; Rodriguez, A.; Sanchez, F.; Sasaki, T.; Shiraishi, K. K.; Suzuki, A.; Takahashi, T.; Takubo, Y.; Tanaka, M.; Terri, R.; Tornero-Lopez, A.; Ueda, S.; Wilkes, R. J.; Yamamoto, S.; Yokoyama, M.; Yoshida, M.

VTechWorks staff will be away for the Thanksgiving holiday starting November 24 through November 28, and will not be replying to requests during this time. Thank you for your patience.

View/Open

Accepted Version (222.5Kb)

Downloads: 112

Date

2004-12-11

Author

Nitta, K.

Aliu, E.

Andringa, S.

Aoki, S.

Choi, S.

Dore, U.

Espinal, X.

Gomez-Cadenas, J. J.

Gran, R.

Hasegawa, M.

Hayashi, K.

Hayato, Y.

Hiraide, K.

Ichikawa, A. K.

Iinuma, M.

Jang, J. S.

Jeon, E. J.

Joo, K. K.

Jung, C. K.

Kato, I.

Kerr, D.

Kim, J. Y.

Kim, S. B.

Kobayashi, K.

Kohara, A.

Kubota, J.

Kudenko, Y.

Kuno, Y.

Lee, M. J.

Lessac-Chenin, E.

Lim, I. T.

Loverre, P. F.

Ludovici, L.

Maesaka, H.

Mariani, Camillo

McGrew, C.

Mineev, O.

Morita, T.

Murakami, T.

Nakanishi, Y.

Nakaya, T.

Nawang, S.

Nishikawa, K.

Pac, M. Y.

Rhee, E. J.

Rodriguez, A.

Sanchez, F.

Sasaki, T.

Shiraishi, K. K.

Suzuki, A.

Takahashi, T.

Takubo, Y.

Tanaka, M.

Terri, R.

Tornero-Lopez, A.

Ueda, S.

Wilkes, R. J.

Yamamoto, S.

Yokoyama, M.

Yoshida, M.